
Учебно-исследовательский комплекс для исследования микросистем:
- Автоматизированный лабораторный стенд для исследования фотоэлектрических свойств микросистем
- Автоматизированный лабораторный стенд для исследования параметров микросистем методом вольт-фарадных характеристик
- Автоматизированный лабораторный стенд для исследования параметров микросистем методом вольт-амперных характеристик
- Автоматизированный лабораторный стенд для исследования свойств микро-, наноматериалов методом эффекта Холла
- Автоматизированный лабораторный стенд для исследования свойств сегнетоэлектриков
- Автоматизированный лабораторный стенд для исследования магнитных свойств материалов
- Автоматизированный лабораторный стенд для исследования свойств микросистем на основе проводниковых материалов
Учебный аппаратно-программный комплекс для изучения нанотехнологических процессов
Сканирующий микроскоп СММ 2000
Профилометр модель 130