|
Лабораторный стенд "Теоретические основы электротехники № 1".
Стенд позволяет выполнять следующие лабораторные работы:
· "Исследование характеристик линейных и нелинейных
двухполюсников и источников электромагнитной энергии", включающую в себя
определение вольт-амперных характеристик линейного
и нелинейного резисторов, конденсатора и катушки индуктивности, анализ
временных зависимостей токов и напряжений линейного и нелинейного резисторов
и реактивных двухполюсников при синусоидальных воздействиях, исследование вольт-амперных характеристик реальных источников.
· "Исследование линейных резистивных цепей", включающую в себя
исследование цепи при питании ее от двух источников, определение токов в
ветвях методом наложения, определение тока в ветви методом эквивалентного
источника напряжения, а также экспериментальную проверку принципа взаимности.
· "Исследование свободных процессов в электрических
цепях", включающую в себя исследование свободных процессов в цепях
первого, второго и третьего порядка, изучение связи между видом свободного
процесса в электрической цепи и расположением собственных частот на
комплексной плоскости.
· "Исследование переходных процессов в линейных цепях",
включающую в себя исследование переходных процессов в RC-цепи первого порядка
при скачкообразном изменении резистора, исследование переходных процессов в
RC- цепи второго прядка при скачкообразном изменении резистора, исследование
переходных процессов в RC-цепи второго порядка при действии источника
ступенчатого напряжения, исследование переходных процессов в RLC-цепи
третьего порядка при действии источника ступенчатого напряжения.
Лабораторный стенд помимо исследуемых схем содержит встроенные источник
электропитания, генератор тестовых сигналов (3 фиксированные частоты - 0.5,
1, 2 кГц; формы сигналов - синус, меандр, треугольник, дельта-функция,
постоянное напряжение), многофункциональный мультиметр
c жидкокристаллическим дисплеем, предназначенный
для измерения токов и напряжений в контрольных точках схемы. Предусмотрена
возможность подключения двухлучевого осциллографа к
контрольным точкам исследуемого устройства.
|
